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開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。

特點(diǎn)

• 完善的解決方案，價(jià)格實(shí)惠且性能優(yōu)異
• 可現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)和重新配置，將 PCT 轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測(cè)試儀
• 可配置功率電平：
  • 200V 至 3kV
  • 1A 至 100A
• 寬動(dòng)態(tài)范圍：
  • μV 至 3kV
  • fA 至 100A
• 全量程容-電壓 (C-V) 能力：
  • fF 至 μF
  • 支持 2、3 和 4 端器件
  • 高達(dá) 3kV DC 偏移
• 高性能測(cè)試夾具支持一系列軟件包類型

• 探頭測(cè)試臺(tái)接口支持最常見(jiàn)的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標(biāo)準(zhǔn)同軸三線電纜等